JSM-IT810 是JEOL 全新旗艦型SEM機種，具備高解析的熱場發射式電子槍，全方位硬體設計，涵蓋多樣化的樣品需求，搭配整合式軟體，從樣品導航到報告輸出，提升分析產能，

• In-lens Schottky 熱場發射式電子槍:提供充足穩定的電流
• 提供Semi In-lens(Model SIL) 及 Hybrid lens(model SHL/HL)兩系列共5種機型供選擇(SIL 及 SHL 系列均有Premium 及 Standard 兩種等級)
• Semi In-lens 系列提供高解析/高C/P 值選擇
• Hybrid Lens 電場與磁場組合透鏡:全方位兼顧高解析與不同樣品包及分析需求(包含磁性材料與EBSD分析)
• Beam Decellaration 電子減速模式: 提升低電壓影像解析度
• Neo Engine : 提升自動對焦與自動對比性能
• Neo Action: 設定分析區域及條件，可自動拍照及EDS 分析
• SEM Automatic Adjustment Package: 可定期做影像調整、倍率校正及EDS 能量校準來維持SEM性能與分析精確度
• 提供Air Lock 與Draw-out (抽屜式)樣品交換方式供選擇
• ZeroMag 快速樣品導航功能
• LIVE-AI 人工智慧過濾器(option): 提升動態影像品質並減少殘影
• Low Vacuum 低真空模式(option):降低非導體的電荷累積效應
• 全新SBED 低電壓背散射偵測器(option):可在低電壓提供高感度訊號
• 全新VBED 五區塊被散射偵測器(option): 提供3D、原子序對比及表面形貌等多元訊息 (Live 3D)
• 全新UHD 高感度二次電子偵測器(限SHL款): 提供高解析高感度二次電子訊號
• Smile View Lab 整合性報告軟體
• SMILENAVI 操作導航軟體(option):針對初學者操作輔助軟體

Note: SEM 應用領域之適用性請參考連結