首頁 > 儀器專區 > 電子顯微鏡 > 掃描式電子顯微鏡 > FE-SEM

熱場發掃描式電子顯微鏡


型號:JSM-IT800
規格:FESEM Schottky Thermal FEG HL SHL
技術文件:尚未上傳
廠商:JEOL

JSM-IT800 是JEOL 全新旗艦型SEM機種,具備高解析的熱場發射式電子槍,全方位硬體設計,涵蓋多樣化的樣品需求,搭配整合式軟體,從樣品導航到報告輸出,提升分析產能,

 

  • In-lens Schottky 熱場發射式電子槍:提供充足穩定的電流
  • 提供HL (Hybrid Lens) 及SHL (Super Hybrid Lens) 兩種等級供選擇
  • Hybrid Lens 電場與磁場組合透鏡:兼顧高解析與不同樣品包及分析需求(包含磁性材料與EBSD分析)
  • Beam Decellaration 電子減速模式: 提升低電壓影像解析度
  • Neo Engine : 提升自動對焦與自動對比性能
  • 提供Air Lock 與Draw-out (抽屜式)樣品交換方式供選擇
  • ZeroMag 快速樣品導航功能
  • LIVE-AI 人工智慧過濾器(option): 提升動態影像品質並減少殘影
  • Low Vacuum 低真空模式(option):降低非導體的電荷累積效應
  • 全新SBED 低電壓背散射偵測器(option):可在低電壓提供高感度訊號
  • 全新VBED 五區塊被散射偵測器(option): 提供3D、原子序對比及表面形貌等多元訊息
  • 全新UHD 高感度二次電子偵測器(限SHL款): 提供高解析高感度二次電子訊號
  • Smile View Lab 整合性報告軟體
  • SMILENAVI 操作導航軟體(option):針對初學者操作輔助軟體



[ 返回 電子顯微鏡 一覽 ]
日本電子株式會社
美國GATAN公司
英國OXFORD Instruments 公司
美國SPI Supplies公司
美國tousimis 公司
日本SIF公司
比利時 Nanomegas 公司
日本 Micro Support 公司
美國Protochips公司
英國 Deben 公司