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電子顯微鏡 > 掃描式電子顯微鏡

由於SEM依其硬體設計(如電子源、物鏡等)之不同,其適合的電壓、倍率及分析應用也不同,請參考下圖之分類參考。



日本電子株式會社
美國GATAN Inc.
英國 OXFORD Instruments
美國 SPI Supplies
美國 tousimis
日本 SIF
比利時 Nanomegas
日本 Micro Support
美國 Protochips
英國 Deben