首頁 > 儀器專區 > 電子顯微鏡 > 穿透式電子顯微鏡 > 穿透式電子顯微鏡 200 kV

200KV 高效率場發射電子顯微鏡


型號:JEM-ACE200F
規格:200KV TFEG
技術文件:尚未上傳
廠商:JEOL

       JEM-ACE200F乃因應近年來半導體工業在製程微縮過程中,對TEM 高效率與自動化的需求下所誕生的全新機種,其特色如下:

 

  1. 樣品室高抽氣效率30秒完成
  2. 整合自動校準功能縮短影像取得時間
  3. 人性化圖形介面操作方式、可用滑鼠遠端操控
  4. 可透過程式建立直覺的工作流程
  5. 可輕易建立修改操作配方
  6. 優異的環保性能
  7. Automation center TEM 自動化整合系統(Option)



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