300KV 原子解析場發射穿透式電子顯微鏡
型號:JEM-ARM300F2 Grand ARM2 規格:FETEM Cs 技術文件:尚未上傳 廠商:JEOL 主要特色: 1. FHP2 全新優化物鏡極件(OL pole-piece)全新優化立體角與起飛角,使EDS 訊號偵測更有效率 2. 全新外罩全包覆箱型外罩,全面提高抵抗噪音、溫度、氣流等環境干擾因素,提高電鏡穩定度 3. ETA 球差校正器 及 JEOL COSMO™ 球差校正軟體JEOL 全新設計12極ETA球差校正器搭配JEOL COSMO™ 快速精確的球差校正軟體,不須特定樣品,可在任意非晶相區校正。 4. 穩定度提升全新冷場發射電子槍,採用高效輕量化離子泵、提高電鏡整體穩定度 |