樣品製備 > TEM 樣品前處理

第二代精密離子減薄系統
PIPSII , 695

超音波切割機
601

TEM 樣品打孔機
659

手動研磨器
623

磨凹儀
Dimpler II 657

TEM 截面工具組
601.07000

日本電子株式會社

美國GATAN Inc.

英國 OXFORD Instruments

美國 SPI Supplies

美國 tousimis

日本 SIF

比利時 Nanomegas

日本 Micro Support

美國 Protochips

英國 Deben