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電熱臨場實驗TEM 樣品桿


型號:Fusion Select
規格:MEMS chip
技術文件:尚未上傳
廠商:Protochips

TEM電熱的動態觀察實驗中,在加熱的部份,傳統樣品桿利用Furnace 加熱樣品,會有下列缺點:

  • 升降溫速度不夠快。
  • 樣品與furnace之間因熱傳導的關係,溫度有較大落差。
  • 若操作不當,可能造成樣品融熔溢流而沾黏底座。
  • 升溫時造成的嚴重熱飄移問題。

 


Fusion Select 電熱臨場實驗TEM 樣品桿採用先進的微機電(MEMS)技術,根據不同實驗需求,可更換不同E-chip™晶片,其特色如下:

  • 升降溫精準快速
  • 低飄移、適合高解析影像。
  • 溫度範圍: RT to 1200oC
  • 六組探針可提供加熱與四點探針電性分析
  • EDS/EELS 分析相容優化設計,
  • 入門級(單傾斜/加熱型)樣品桿可輕易升級為雙傾斜、電熱同步等高階樣品桿
  • 提供Thermal、Electric及Electrothermal三種類型晶片,並有不同 Pattern 樣式供選擇。

 



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