首頁 > 儀器專區 > 電鏡附屬配件 > TEM 樣品桿

電熱臨場實驗TEM 樣品桿



型號:Fusion
規格:MEMS chip
技術文件:尚未上傳
廠商:Protochip

TEM電熱的動態觀察實驗中,在加熱的部份,傳統樣品桿利用Furnace 加熱樣品,會有下列缺點:

  • 升降溫速度不夠快。
  • 樣品與furnace之間因熱傳導的關係,溫度有較大落差。
  • 若操作不當,可能造成樣品融熔溢流而沾黏底座。
  • 升溫時造成的嚴重熱飄移問題。

 


Protochip採用先進的微機電(MEMS)技術,將加熱及測溫線路製作於可拆式的晶片上(E-chip™)而樣品則置於電子束可穿透的加熱膜上, 由於加熱更直接快速,且因加熱範圍小,飄移問題大幅減輕。

在電性實驗部分,也可以將E-chip™放入FIB機台中,利用Metal deposition方法固定或製作導線。

Protochip Fusion系列提供Thermal、Electric及Electrothermal三種類型晶片,並有不同 Pattern 樣式供選擇,此外若有特殊需求亦可客製化製作晶片。

 



[ 返回 電鏡附屬配件 一覽 ]
日本電子株式會社
美國GATAN公司
英國OXFORD Instruments 公司
美國SPI Supplies公司
美國tousimis 公司
日本SIF公司
比利時 Nanomegas 公司
日本 Micro Support 公司