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掃描穿透高角度環形暗場影像偵測器


型號:806 HAADF STEM detector
規格:
技術文件: Product_20081014140949.pdf
廠商:Gatan

806 HAADF STEM detector 主要提供Z-contrast (原子序對比影像), 與805 的繞射對比影像是不同的, 但兩者卻可互相搭配獲取不同訊息.

主要特徵如下:

  • 高感度低雜訊的YAP 閃爍器
  • 安裝於Ultra Scan 或Orius bottom type housing
  • 需和Digiscan 搭配使用
  • 可與805 BF/DF 偵測器搭配使用
  • 可與EELS 光譜同時擷取訊號



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