首頁 > 儀器專區 > 樣品製備 > CP, 截面拋光儀

Ilion II+ 離子截面拋光儀


型號:Ilion II+ 697
規格:8KV Dual Gun
技術文件:尚未上傳
廠商:Gatan

Features:

  • Penning ion gun: High current density, more economic
  • 2 independent gun tilt design: +/- 10o adjustable
  • Both cutting & etching are possible
  • Diaphragm & MDP dry pumping system for oil free environment
  • Option site specific tool for high accuracy sample positioning.
  • Option CCD: Magnification up to X 2600 for real time viewing cutting process
  • Option cold stage down to -120oC for ion sensitive sample



[ 返回 樣品製備 一覽 ]
日本電子株式會社
美國GATAN Inc.
英國 OXFORD Instruments
美國 SPI Supplies
美國 tousimis
日本 SIF
比利時 Nanomegas
日本 Micro Support
美國 Protochips
英國 Deben