型號:JEM-2000V 規格:UHV, LaB6, In-situ
技術文件:尚未上傳 廠商:JEOL
對於高階的電鏡使用者,臨場(In-situ)的觀察提供材料研究更直接的證據,在此實驗中,良好的真空環境更能確保結果的可信度。本款TEM在樣品室提供超高真空環境,並可依客戶需求外接氣體供應、鍍膜、升降溫或機械操控等特殊裝置,絕對是研發人員的得力助手。
Feature:
- LaB6 or W thermal emission gun
- 200KV high resolution image
- Miscellaneous OL pole piece for choice
- Select Area Diffraction
- High spatial resolution for EDS, NBD and CBD
- Ultra high vacuum for specimen chamber provide perfect environment for In-situ experiment.
|