STEM(掃描穿透電子顯微鏡) ，傳統常利用BF明場偵測器得到原子結構像及HAADF高角度環形暗場偵測器得到原子序對比影像。而全新設計的4D Canvas 成像系統，利用高速相機FPD(Fast Pixeled Detector)收集更完整訊息，同時獲得二維實空間及二維倒空間共四維訊息，並藉由疊層成像運算(Ptychography) 得到高訊雜比的多元訊息，對輕元素成像、相對比觀察、差排分布觀察、電/磁區分布觀察，提供突破性的方法，同時其高速成像特性亦有利於電子束敏感材料之觀察

其特點如下:

• 底裝伸縮式設計，可與現有Camera 並存
• 1000 fps at full frame 高速成像
• 高訊雜比影像
• 多樣化訊息，提供

BF (Bright Field):明場像

DF(Dark Field):暗場像

ABF (Annular Bright Field): 環形明場像

e-ABF (Enhenced Annular Bright Field): 增強環形明場像

LAADF(Low Angle Annular Dark Field): 低角度環形暗場像

Phase Contrast image: 相對比影像

Electric Map: 電場分布圖

Magnetic Map: 磁場分布圖

• 多種觀察模式:

Single Electron mode

Imaging mode

Anti-blooming mode

• 四維疊層成像運算(Ptychography)
• 後段影像像差校正