首頁 > 儀器專區 > 電鏡附屬配件 > TEM 樣品桿

大氣加熱臨場實驗TEM 樣品桿


型號:Atmosphere
規格:MEMS Chips
技術文件:尚未上傳
廠商:Protochips

       在傳統TEM 實驗中,樣品是在真空中執行觀察與分析,然而這樣的條件與某些材料現實應用環境並不相符,例如汽車廢氣的觸媒轉換就是在高溫及大氣環境下反應,為了讓臨場實驗更貼近真實狀態,Protochips 推出了Atmosphere 大氣加熱臨場實驗TEM 樣品桿。

     Atmosphere 樣品桿讓大氣環境加熱的臨場研究變得可行,例如觸媒、能源以及金屬腐蝕環境的領域提供全新研究平台。

其規格大致如下:

  1. 氣體模式:靜態/流動 兩種模式
  2. 氣壓範圍: 3 to 760 Torr
  3. 溫度範圍: RT to 1000oC
  4. 氣體接口:三個,並可做物質混合或反應
  5. 高溫下原子解析的穩定度
  6. EDS/EELS 分析相容設計



[ 返回 電鏡附屬配件 一覽 ]
日本電子株式會社
美國GATAN Inc.
英國 OXFORD Instruments
美國 SPI Supplies
美國 tousimis
日本 SIF
比利時 Nanomegas
日本 Micro Support
美國 Protochips
英國 Deben