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進動電子繞射系統


型號:ASTAR
規格:
技術文件:尚未上傳
廠商:NanoMEGAS

 

       電子繞射(ED, Electron Diffraction)是穿透式電子顯微鏡用來鑑定材料結晶相的方法。然而晶體與電子束間的角度變化影響繞射點能否正常顯現,而樣品厚度所造成的多重散射更讓繞射點強度的量化計算產生困難,因此傳統電子繞射多半只能利用人工調整做單點分析

       Nanomegas的進動電子繞射(PED, Precession Electron Diffraction)方法,利用電子束微小的傾角(小於3o)並做高速旋轉(合稱為進動(Precession))解決上述繞射顯像與量化兩大問題,搭配掃描系統,可做多點或面的晶體繞射分析。由於TEM本身的高空間解析度搭配PED的掃描繞射分析功能,使得nm等級的晶體相鑑定變得可行。

       PED 系統可應用在

  • 材料相分析 (Phase Analysis)
  • 晶體向位分析 (Crystal Orientation Analysis)
  • 材料應力分析 (Strain Analysis)
  • EDS-EELS 光譜優化
  • 繞射三維重構(3D Diffrcation Tomography)

 

 



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