軟性X-光放射光譜儀
  
型號：SXES-ER 規格：50~2300 ev 技術文件：尚未上傳 廠商：JEOL 軟性X-光放射光譜儀是JEOL 專利創新發明, 具備 (0.3 eV (Fermi-edge, Al-L standard) 超高能量解析度，並以高低能量同步接收方式累加光譜。兼具WDS 的高能量解析與EDS 的高效率分析。 在分析能力上，藉由超高能量解析度，可以分析化學鍵結的差異，此外對於輕元素分析與偵測極限部分都顯著超越EDS 與 WDS
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