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120KV 高對比型穿透式電子顯微鏡


型號:JEM-1400 Flash
規格:120KV W or LaB6
技術文件:尚未上傳
廠商:JEOL

       JEM-1400Flash 為日本電子公司(JEOL Co.,Ltd)所開發針對生醫、高分子科學及一般材料用之120KV高對比型穿透式電子顯微鏡,配備經濟型W燈絲或高性能LaB6 電子源,提供高亮度高空間解析度的電子束,由於真空要求度不高(10-5Pa),適合多樣化的試片分析。本機型電子腔並具有維修簡易的優點。多樣化的pole piece 選擇,可針對客戶需求選擇,高對比(HC), 高解析(HR)或掃描穿透(STEM)機型。JEM-1400Flash 的標準功能包括穿透影像觀察,電子繞射做晶體結構分析。

       影像部分,配置最新高感度數位影像擷取系統 (sCMOS) ,對生物/高分子提供更高對比影像,並降低樣品損害,並可搭配超廣區影像拼接功能(LLP), 得到大區域高解析影像,此外,光學影像重合功能,可疊合具有官能基訊息的螢光顯微鏡與高解析的電子顯微鏡影像,讓實驗結果更豐富。

       分析部分,您可選擇EDS 做元素成分分析、STEM 得到明場或暗場的掃描影像,或搭配EDS 做Element mapping

       面對如此強大的功能,然而其操作界面卻是簡化的,JEM-1400Flash 以PC化的介面,將上述功能整合起來,全新的JENIE 軟體,提供操作導航說明,即使是TEM的新手,也能在最短的時間內輕鬆駕馭。

特色:

* 高感度sCMOS 相機

* 超廣區影像拼接功能

* 光學影像重合功能

* JENIE 操作導航軟體



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