JEM-1400Flash 為日本電子公司(JEOL Co.,Ltd)所開發針對生醫、高分子科學及一般材料用之120KV高對比型穿透式電子顯微鏡，配備經濟型W燈絲或高性能LaB6 電子源，提供高亮度高空間解析度的電子束，由於真空要求度不高(10-5Pa)，適合多樣化的試片分析。本機型電子腔並具有維修簡易的優點。多樣化的pole piece 選擇，可針對客戶需求選擇，高對比(HC), 高解析(HR)或掃描穿透(STEM)機型。JEM-1400Flash 的標準功能包括穿透影像觀察，電子繞射做晶體結構分析。

       影像部分，配置最新高感度數位影像擷取系統 (sCMOS) ，對生物/高分子提供更高對比影像，並降低樣品損害，並可搭配超廣區影像拼接功能(LLP), 得到大區域高解析影像，此外，光學影像重合功能，可疊合具有官能基訊息的螢光顯微鏡與高解析的電子顯微鏡影像，讓實驗結果更豐富。

       分析部分，您可選擇EDS 做元素成分分析、STEM 得到明場或暗場的掃描影像，或搭配EDS 做Element mapping。

       面對如此強大的功能，然而其操作界面卻是簡化的，JEM-1400Flash 以PC化的介面，將上述功能整合起來，全新的JENIE 軟體，提供操作導航說明，即使是TEM的新手，也能在最短的時間內輕鬆駕馭。

特色:

* 高感度sCMOS 相機

* 超廣區影像拼接功能

* 光學影像重合功能

* JENIE 操作導航軟體