首頁 > 儀器專區 > 電子顯微鏡 > 穿透式電子顯微鏡 > 穿透式電子顯微鏡 200 kV

200KV 原子解析場發射穿透式電子顯微鏡


型號:JEM-ARM200F NEO ARM
規格:200KV Cs Cold FEG
技術文件:尚未上傳
廠商:JEOL

特色:

* 200KV 超高解析影像

* 低色散像差冷場發射式電子槍

* Advanced STEM corrector (ASCOR) 高階球差校正器可消弭六級像差

* 整合式 COSMO 自動調整操作介面

* Perfect sight NEO 偵測器,提供各電壓下更好的STEM 訊號

* 特用型 ABF 偵測器,觀察輕元素STEM 原子結構像

* e-ABF 實時ABF訊號處理,提高輕元素影像對比

* STEM 掃描穿透影像系統(可四種訊號同步擷取)

* STEM 明場像偵測器

* STEM HAADF 高角度環形暗場像偵測器

* STEM BEI 偵測器(選購)

* 觀察室相機系統,方便樣品搜尋及電子束校準

* 內建Lorentz 觀察模式方便材料磁區影像觀察

* 選區繞射功能

* 超高空間解析之 EDS, NBD, CBD分析



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