200KV 原子解析場發射穿透式電子顯微鏡
型號:JEM-ARM200F NEO ARM 規格:200KV Cs Cold FEG 技術文件:尚未上傳 廠商:JEOL 特色: * 200KV 超高解析影像 * 低色散像差冷場發射式電子槍 * Advanced STEM corrector (ASCOR) 高階球差校正器可消弭六級像差 * 整合式 COSMO 自動調整操作介面 * Ad-hoc 結晶區域自動聚焦,像差調整 * Perfect sight NEO 偵測器,提供各電壓下更好的STEM 訊號 * 特用型 ABF 偵測器,觀察輕元素STEM 原子結構像 * e-ABF 實時ABF訊號處理,提高輕元素影像對比 * STEM 掃描穿透影像系統(可四種訊號同步擷取) * STEM 明場像偵測器 * STEM HAADF 高角度環形暗場像偵測器 * STEM BEI 偵測器(選購) * 觀察室相機系統,方便樣品搜尋及電子束校準 * 內建Lorentz 觀察模式方便材料磁區影像觀察 * 選區繞射功能 * 超高空間解析之 EDS, NBD, CBD分析 |