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200KV 場發射穿透式電子顯微鏡



型號:JEM-F200
規格:FETEM Schottky Thermal or Cold FEG
技術文件:尚未上傳
廠商:JEOL

Features

  1. 全新智慧設計:洗鍊的外觀、卓越的機械與電子穩定度搭配專門為分析式電子顯微鏡設計的全新操作介面

  2. 四級聚光電磁透鏡(Condenser lens): 電子束光斑強度與收斂角獨立調整

  3. 高階掃描系統:提供STEM-EELS更寬廣的掃描範圍 

  4. Pico 驅動載台: 全新皮米(10-12m)精度載台,可在沒有Piezo驅動情況下移動全樣品至原子尺度的動態範圍

  5. Specporter (自動樣品桿進出系統):不僅減少樣品桿進出可能的人為疏失,對盛載液態氮的實驗,不須傾轉樣品桿,方便且節省液態氮損失

  6. 改良式冷場發射電子槍:除了標準的熱場發射電子槍外,也可以選購高能量解析的冷場發射電子槍,由於降低了色散像差,影像解析度提高並增強EELS化學鍵結分析能力

  7. 可搭載雙 SDD EDS:新型EDS port 設計可搭載兩支大面積高感度SDD EDS, 超大立體接收角在容易受電子束損傷樣品分析上尤其方便

  8. 節能模式:創新的ECO 節能模式在儀器不使用的情況下其耗能僅相當於正常模式的1/5,並可設定回復正常模式的時間點,節能並善待環境



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