TEM 殘餘應力分析系統

型號：Ver. 1.6.1 規格：STEM Stress NBD 技術文件：尚未上傳 廠商：System in Frontier Inc. (SIF) NBD

日本電子株式會社

美國GATAN Inc.

英國 OXFORD Instruments

美國 SPI Supplies

美國 tousimis

日本 SIF

比利時 Nanomegas

日本 Micro Support

美國 Protochips

英國 Deben