型號:ver. 4.7428U219 規格:
技術文件:尚未上傳 廠商:JEMS-SAAS
JEMS 主要規格如下:
- 操作界面: 可安裝於 PC, Mac, Linux, Sun OS 等作業系統。
- 功能簡介:
- 可建立,,修改或輸入標準CIF 晶體結構檔。
- 可顯示三維晶體結構圖。
- 可做選區繞射模擬:包含繞射點、菊池線、 HOLZ 線及double diffraction 等) 。
- 可做SAD Index分析。
- 可做電子繞射、中子繞射及 X-ray 繞射之degree vs. Intensity profile 模擬。
- 可設定電鏡操作條件(如電壓、Cs、Cc、Energy spread energy、Beam tilt、OBJ aperture、sample Zone axis.....)。
- 可模擬HREM image(Multi slice model or Blochwave model) 。
- 可模擬CBED image(含 HOLZ、dynamic calculation CBED image及Kossel-Moellenstedt fringes CBED patterns ) 。
- 可做Environment vibration 及sample drift 模擬。
- Data transfer to Mathmatica 及 Gatan Digital Micrograph software。
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