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Java Electron Microscope Simulation


型號:JEMS
規格:
技術文件:尚未上傳
廠商:EPFL

JEMS 主要規格如下:

  1. 操作界面: 可安裝於 PC, Mac, Linux, Sun OS 等作業系統。
  2. 功能簡介:
    • 可建立,,修改或輸入標準CIF 晶體結構檔。
    • 可顯示三維晶體結構圖。
    • 可做選區繞射模擬:包含繞射點、菊池線、 HOLZ 線及double diffraction 等) 。
    • 可做SAD Index分析。
    • 可做電子繞射、中子繞射及 X-ray 繞射之degree vs. Intensity profile 模擬。
    • 可設定電鏡操作條件(如電壓、Cs、Cc、Energy spread energy、Beam tilt、OBJ aperture、sample Zone axis.....)。
    • 可模擬HREM image(Multi slice model or Blochwave model) 。
    • 可模擬CBED image(含 HOLZ、dynamic calculation CBED image及Kossel-Moellenstedt fringes CBED patterns ) 。
    • 可做Environment vibration 及sample drift 模擬。
    • Data transfer to Mathmatica 及 Gatan Digital Micrograph software。



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