SPI 的TEM 倍率校正樣品包括：

1. Mag*I*Cal(含認證書):以Si-Ge 量子阱為材料之校正樣品, 適合中高倍率之校正.
2. Catalase:Catalase 晶格常數高達8.75nm 及6.75nm, 適合解析度較差(如W-TEM)之中高倍率校正
3. Cross & Line Grating replica: 最為廣泛使用之中低倍校正樣品, 其方格尺寸約 2160格/mm
4. 標準尺寸球:SPI 提供玻璃或Polystyrene 標準尺寸球, 其尺寸涵蓋0.1um~2000um