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TEM 倍率校正樣品


型號:TEM Mag calibration
規格:
技術文件:尚未上傳
廠商:SPI

SPI 的TEM 倍率校正樣品包括:

  1. Mag*I*Cal(含認證書):以Si-Ge 量子阱為材料之校正樣品, 適合中高倍率之校正.
  2. Catalase:Catalase 晶格常數高達8.75nm 及6.75nm, 適合解析度較差(如W-TEM)之中高倍率校正
  3. Cross & Line Grating replica: 最為廣泛使用之中低倍校正樣品, 其方格尺寸約 2160格/mm
  4. 標準尺寸球:SPI 提供玻璃或Polystyrene 標準尺寸球, 其尺寸涵蓋0.1um~2000um



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