TEM用 矽飄移式能量分散式光譜儀 (Ultim Max TEM 系列)
  
型號：Xplore Ultim Max TEM TLE 規格： 技術文件：尚未上傳 廠商：Oxford 現代TEM EDS分析除了一般常規元素分析外，更因各式高解析TEM(如Cs TEM) 的來臨，將微區分析帶入原子尺度，在此極致解析度下通常使用低電流模式，因此更需要大立體角的偵測面積。 本系列比上一代的X-MaxN 系列優化立體角及電子線路，感度提升並且更適合In-situ 臨場實驗，即使在高溫實驗中，仍可偵測EDS光譜訊號 * Xplore TEM-80mm2 常規 TEM 應用 * Ultim Max TEM-80mm2 Windowless 200KV FE-TEM 大立體角高效率分析機種，輕元素分析加強版 * Ultim Max TLE-100mm2 Windowless Cs FEG TEM 超高收集效率, 原子級微區分析能力, 輕元素分析加強版 |
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