ADVANTAGES 

       Monarc 以創新光學設計全面提升感度及解析度、同時具備完整的波長與角度解析功能，提供奈米發光、光電材料以及地質分析全新視野。

快速取得最佳結果

• 取得無可匹敵的CL 資料，空間解析(<10 nm), 角度解析 (1°), 波長解析 (0.1 nm) 
• 同步取得角度及波長解析的CL 訊息
• 以高於傳統型CL 30倍的速率收集高光譜

簡易操作

• 全自動校準及配方操作導向，確保最佳結果
• 穩定光學校準提供優質再現性結果
• 以最大觀察範圍增加分析效率並簡化工作流程

最精確的關聯性分析

• 可同步偵測影像、組成及CL 等關聯訊息
• CL 分析中，可同時使用 in-lens SEM 偵測器

獨特功能:

• 角度解析 Angle-resolved (ARCL): 

           可了解在遠低於光繞射極限下, 光與物質的交互作用-提供比傳統CL 約400倍大的觀察範圍並無損解析度

• 波長與角度解析 Wavelength- and angle-resolved (WARCL):

          觀察不同角度下、光與物質的作用及波長分布。藉由Monarc 獨特的光學設計，讓這些過去難以實現的分析得以實現

• 偏光濾鏡:

         可確認次波長結構發光的偏極性，如奈米天線、奈米凹坑及發光晶體等